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♦直观的图形化界面设计，简化了参数配置及I-V测试分析过程
♦支持从测量设置、执行到结果分析、数据管理的整个表征过程
♦针对MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型测试项，快速调用即用型测试项，加速器件表征测试
SPS5000软件具有各种强大的功能，可以快速进行测量并以图形化方式获取结果。为加速半导体器件检定测试过程，SPS5000针对常见的器件类型，例如MOSFET、二极管、BJT以及薄膜电阻配备多种即用型测试项，使用者无需进行任何的测试项开发或代码编程，即可快速执行复杂的半导体测试。以MOSFET的Id-Vd输出特性测试为例，传统的测试过程需要经过：定义测试变量-----开发测试流程-----编写测试代码-----执行测试。而通过SPS5000软件用户仅需要三个简单的步骤，即可快速完成测试，第一步选择即用型测试项Id-Vd-----第二步配置测量条件-----第三步执行测试。
灵活提供测试序列，提升测试效率
SPS5000软件提供了一种灵活且高效的方法，允许用户选择多个测试项来构建测试序列，以便对半导体器件参数指标进行连续测试，从而显著缩短了测试时间。这项功能适用于具备相同接线方式的测试项。在进行测试配置时，当您选择其中一个测试项，软件会自动显示具有相同测试接线的其他测试项。您可以根据具体的测试场景和需求，选择一次执行单个测试项（如Id-Vd）或组合成测试序列进行连续测试（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以实现半导体器件性能的评估和验证。
强大的图表在线分析功能
SPS5000软件提供了强大的图形显示和分析功能。用户可以利用软件提供的各种图表分析工具，如曲线自动缩放、恒值线、区域标记、切线、分布线等，快速完成对测试结果的分析。用户无需导出图表后借助其他辅助工具，更加方便快捷。此外，软件还支持多Y轴功能，并允许用户根据分析需求灵活配置X轴和Y轴的数据类型，以及选择log或linear刻度显示格式，让曲线显示更直观和符合分析的意图。如下图所示，当您开启line功能后，软件会自动显示line与曲线交点位置的参数值。
