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♦ 直感的な GUI により、測定セットアップ、I-V 特性評価、およびデータ分析が簡素化されます。
♦ MOSFET/BJT/ダイオード/抵抗器のすぐに使用できるテスト項目を提供し、迅速なリコールを可能にします。
♦ デバイスの複数パラメータテストを連続実行する自動テストシーケンス機能*1
♦ インタラクティブでリアルタイムのデータプロットにより、テスト結果のレビューが迅速化されます。
♦ 最大 32 チャネルの DUT テストを同時に実行するクイックテストモード
♦ 内蔵データベースにより、ユーザーはデータやグラフを保存し、迅速に呼び出すことができます。
♦ 自動スケーリングやライン操作などの強力なグラフ分析ツール
♦ 複数の Y 軸機能と、Y 軸/X 軸の設定可能なパラメータ タイプおよびスケール タイプ
♦ テスト項目のカスタマイズ機能を提供*2
♦ Windows 7 (またはそれ以降) オペレーティング システムと互換性のあるソフトウェア
♦ 低電力ダイオードおよび MOSFET テスト用テストフィクスチャ IT-E803 (42V/1A)
♦ IT2800 シリーズ SMU で使用可能、最小分解能は最大 100nV/10fA
すぐに使えるテスト項目により、半導体デバイスの特性評価が大幅に加速されます SPS5000 ソフトウェアは、MOSFET、BJTS、ダイオード、抵抗器など、さまざまな種類の半導体デバイスにすぐに使える便利なテスト項目を提供します。 ユーザーは二次的なプログラミングを行うことなく、測定のセットアップとデータ収集を迅速に実行できるようになります。 MOSFET テストを例にとると、一般的なテスト プロセスは次のようになります: テスト変数の定義 --- テスト方法の開発 --- 自動作成 テストコード-----テストの実行-----データ分析を行う。 SPS5000を使用すると、プリインストールされたテスト項目を使用して、3ステップで簡単にテストを行うことができます。 ステップ 1 は、Id-Vd などのすぐに使用できるテスト項目を選択することです。 ステップ 2 では、測定条件を設定します。 最後のステップは、「実行」をクリックしてテストを開始することです。 テストが終了すると、データとグラフが自動的に取得されます。
SPS5000 ソフトウェアは、ユーザーが複数のすぐに使用できるテスト項目を使用してテスト シーケンスを作成できるようにすることで、柔軟で高効率のテスト モードを提供します。 自動テストシーケンスモードは、半導体デバイス上の複数のパラメータを効率的に収集するために重要です。 たとえば、次のことを選択すると、 MOSFET の Id-Vd テスト項目、SPS5000 は、Vth、FET Id-Vg など、同じ配線接続を持つ他のテスト項目を自動的に呼び出します。 ユーザーは、一度に 1 つのテスト項目 (Id-Vd など) のみを実行することも、それらをシーケンスに組み合わせて高速複数パラメトリック テスト (Id-Vd -> Vth -> IonIoffslop ->…) を実行することもできます。
自動分析およびグラフィカル表示機能により、特性解析が加速されます。 GUI ベースの特性評価ソフトウェア SPS5000 を使用すると、ユーザーは測定セットアップを迅速に実行し、結果をグラフィカルに取得できます。 計算および抽出されたパラメータを直接表示するだけでなく、オートスケーリングや線演算 (定数線、接線、回帰線) などのさらなる分析のための強力なグラフ分析ツールも提供します。 ユーザーは、ストリップ機能を使用して、グラフ上の MOSET カットオフまたは飽和領域をマークすることもできます。 さらに、SPS5000 は複数の Y 軸機能をサポートします。 ユーザーは、分析要件に応じて、X 軸と Y 軸のデータ タイプ、対数またはリニア スケール形式を柔軟に設定できます。
