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Parametrische Testsoftware für Halbleiter SPS5000
Die parametrische Halbleitertestsoftware SPS5000 von ITECH ist mit der hochpräzisen Quellenmesseinheit IT2800 ausgestattet. Es hilft, Halbleitertests zur Charakterisierung von Bauteil-IV und parametrische Tests schnell abzuschließen. SPS5000 unterstützt DC-, Puls-, Einzel- und bidirektionale Wobbelmodi. Mit einer intuitiven Benutzeroberfläche unterstützt der SPS5000 Universitätslabore, Halbleiterlieferanten und Forschungsinstitute bei der schnellen Durchführung von Charakterisierungstests für Halbleitergeräte. Für die Nutzung sind keine Programmierkenntnisse erforderlich. Die SPS5000-Software bietet gebrauchsfertige Testelemente für verschiedene Arten von Halbleiterbauelementen wie MOSFETs, BJTS, Dioden und Widerstände.
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Produktmerkmale

♦ Die intuitive Benutzeroberfläche vereinfacht den Messaufbau, die I-V-Charakterisierung und die Datenanalyse


♦ Bietet gebrauchsfertige Testelemente für MOSFETs/BJTs/Dioden/Widerstände zum schnellen Abrufen


♦ Automatisierte Testsequenzfunktion zur kontinuierlichen Durchführung mehrerer Parametertests für Geräte*1


♦ Interaktive Datendarstellung in Echtzeit beschleunigt die Überprüfung der Testergebnisse


♦ Schnelltestmodus zur gleichzeitigen Durchführung von bis zu 32-Kanal-Prüflingen


♦ Die integrierte Datenbank ermöglicht dem Benutzer das Speichern und schnelle Abrufen von Daten und Diagrammen


♦ Leistungsstarke Tools zur Diagrammanalyse wie automatische Skalierung und Linienoperationen


♦ Mehrere Y-Achsenfunktionen und konfigurierbarer Parametertyp und Skalierungstyp der Y-Achse/X-Achse


♦ Bietet eine benutzerdefinierte Testobjektfunktion*2


♦ Software, die mit dem Betriebssystem Windows 7 (oder höher) kompatibel ist


♦ Testadapter IT-E803 für Low-Power-Dioden und Mosfet-Test (42V/1A)
♦ Kann mit der SMU der IT2800-Serie verwendet werden, Mindestauflösung bis zu 100 nV/10 fA



Funktionen und Vorteile

Gebrauchsfertige Testobjekte beschleunigen die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen erheblich Die SPS5000-Software bietet praktische, gebrauchsfertige Testelemente für verschiedene Arten von Halbleiterbauelementen wie MOSFETs, BJTS, Dioden und Widerstände. Ermöglicht dem Benutzer eine schnelle Messungseinrichtung und Datenerfassung ohne sekundäre Programmierung. Nehmen wir als Beispiel einen MOSFET-Test. Ein üblicher Testprozess sieht folgendermaßen aus: Testvariablen definieren, Testmethoden entwickeln, automatisiert schreiben Testcode -----Ausführung des Tests-----Durchführung der Datenanalyse. Durch die Verwendung von SPS5000 kann der Benutzer den Testvorgang mit den vorinstallierten Testelementen einfach in drei Schritten durchführen. Schritt eins besteht darin, den gebrauchsfertigen Testgegenstand auszuwählen, z. B. Id-Vd. Schritt zwei besteht darin, die Messbedingungen zu konfigurieren. Der letzte Schritt ist das Klicken auf „Ausführen“, um den Test zu starten. Wenn der Test abgeschlossen ist, kann der Benutzer die Daten und Diagramme automatisch erfassen.



Automatisierter Testsequenzmodus zur Durchführung mehrerer Charakterisierungstests Die SPS5000-Software bietet einen flexiblen und hocheffizienten Testmodus, indem sie es dem Benutzer ermöglicht, eine Testsequenz mit mehreren gebrauchsfertigen Testobjekten zu erstellen. Der automatisierte Testsequenzmodus ist wichtig, um mehrere Parameter auf dem Halbleiterbauelement effizient zu erfassen. Zum Beispiel, wenn Sie auswählen Id-Vd-Testobjekt des MOSFET, SPS5000 ruft automatisch andere Testobjekte mit derselben Verkabelungsverbindung auf, wie z. B. Vth, FET Id-Vg. Benutzer können jeweils nur ein Testelement ausführen (z. B. Id-Vd) oder sie zu einer Sequenz für schnelle Tests mit mehreren Parametern kombinieren (Id-Vd -> Vth -> IonIoffslop ->…).



Autoanalyse- und grafische Anzeigefunktionen beschleunigen die Charakterisierungsanalyse Die GUI-basierte Charakterisierungssoftware SPS5000 ermöglicht es dem Benutzer, den Messaufbau schnell durchzuführen und das Ergebnis grafisch anzuzeigen. Es zeigt nicht nur die berechneten und extrahierten Parameter direkt an, sondern bietet auch leistungsstarke Diagrammanalysetools für die weitere Analyse, wie z. B. automatische Skalierung und Linienoperationen (konstante Linie, Tangente und Regressionslinie). Der Benutzer kann die Streifenfunktion auch verwenden, um MOSET-Grenz- oder Sättigungsbereiche im Diagramm zu markieren. Darüber hinaus unterstützt SPS5000 mehrere Y-Achsen-Funktionen. Der Benutzer kann die Datentypen des X-Achsen- und Y-Achsen-, Protokoll- oder Linearskalenformats entsprechend den Analyseanforderungen flexibel konfigurieren.


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